セミコンダクタポータル


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SPI優れもの紹介

「SPI 優れもの紹介」ではセミコンダクタポータル会員の皆様に毎月お送りしている
「SPI 製品情報」の最新号とバックナンバーを掲載しています。

SPI 製品情報とは・・

「e-カタログ」に掲載された製品の中からセミコンダクタポータル会員の皆様にお役に立つ優れもの製品や、サービスをご紹介させて頂く月刊メールマガジンです。

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今月の優れもの ( VOL.8 2003年 3月)
		故障解析/物理化学分析サービス【ノアレパートリ追加】
		( （株）セミコンダクタポータル )
		半導体製造上の不良原因解明でお悩みの方への必見サイトです。新たにデバイスおよびファブレスメーカーのお助け役として（株）ノアが故障解析レパートリーを増しました。 (株）ノアの得意技はＡＴＥテスターとドッキングしたエミッション顕微鏡で高速ロジックデバイスの不良再現にはかかせない手法を有しています。またＴＥＭやＳＥＭの自動サンプル作成技術もあり、所定の断面観察も速攻で対応できます。


バックナンバー

	VOL.16 (2004年7月)	：	「システムLSIの設計強化を実現する試作・評価環境を目指して」（SPIサマリーレポートVol.3．No1）
	VOL.15 (2004年5月)	：	フォトリソ用ワイヤレス温度計測ウエハ（INtegrated　Wafer) / 携帯型データ収集モジュールシステム（ISIS ５） / ピーク温度インディケータ付ウェハ(APTI)
	VOL.14 (2004年1月)	：	歪シリコン技術の展望と動向(SPIサマリーレポートVol.2　No.2）
	VOL.13 (2003年10月)	：	中国半導体産業のダイナミズム（SPIサマリーレポートVol.1　No.1） / 半導体製造装置　中古市場拡大へのソリユーション（SPIサマリーレポートVol.2　No.1） / エンジニア用評価用サンプルの組立、クイックビルド
	VOL.12 (2003年9月)	：	ＬＳＩ開発受託サービス / 半導体業界へのご紹介サービス
	VOL.11 (2003年7月)	：	最新分析情報
	VOL.10 (2003年5月)	：	LASAIRII-110　エアーパーテイクルカウンター
	VOL.9 (2003年4月)	：	故障解析/物理化学分析サービス【TNAレパートリ追加】
	VOL.7 (2003年2月)	：	日中双方向自動翻訳ASPサービス（TwoWａｙ） / TELFORMULA(R)　熱処理成膜装置 / Ｔｒｉａｓ(R)　SPA　プラズマ処理装置 / 最新分析情報（Ｓｉ基板中のCu汚染分析方法）
	VOL.6 (2003年1月)	：	最新分析情報：（ＡＰＩＭＳとＧＣＭＳ）
	VOL.5 (2002年11月)	：	ECO－SHOCK「ドライポンプ省電力化アタッチメント」 / 故障解析/物理化学分析サービス【UBE科学分析センター参加】 / 最新分析情報（Ｈｉｇｈ-ｋ膜中の重金属分析）
	VOL.4 (2002年10月)	：	エネルギー分散型微小部蛍光Ｘ線分析装置μEDX-1200/1300/1400 / CMP用スラリー評価装置　 SlurryChek・SlurryAlert / 故障解析向けウエハ薄膜化装置　6EJ nOvation
	VOL.3 (2002年9月)	：	マイクロフォーカスＸ線ＣＴシステム / 超微量金属除去システム / 酸還王「超機能水製造装置」
	VOL.2 (2002年8月)	：	ハンディレーザーパーティクルカウンタ　ジオアルファー / 故障解析・物理化学分析サービス【NECアメニプランテクス参加】 / ＳＰＩ分析・解析コンサルティング
	VOL.1 (2002年7月)	：	ワイヤレス式ウエハ表面温度測定システム / 分子汚染リアルタイムモニター　AiM-１００

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